所有半導(dǎo)體器件都存在一定的失效比例，在高可靠性要求下，通過老化或者溫循環(huán)等環(huán)境下的在線篩選，是一種非常有些的手段，特別是高速、功耗大的器件，如激光器等，老化測試是制造工序中非常重要的一個步驟。

       傳統(tǒng)老化設(shè)備往往僅僅加溫而不加電老化或者集中供電老化，通常存在一些問題：

·老化過程不可見：不能對每一個被老化單元進行實時監(jiān)測和記錄；

·老化過程不可控：不能對每個老化單元進行獨立控制調(diào)節(jié)；

·老化過程難追溯：對于歷史過程，難以對當時場景比如溫度、插槽、托架、背板、操作員、執(zhí)行的腳本等等進行追溯，因此也難以進行更高級別的數(shù)據(jù)分析；

·集成度低：環(huán)境控制、測試工裝夾具、測試電路、控制軟件、人機界面等模塊配合度低，整體性、系統(tǒng)性程度低，導(dǎo)致不好使用，難以維護。

針對目前老化測試現(xiàn)存的問題，固捷Soliware團隊致力于研發(fā)出一套快速、統(tǒng)一、高效的測試系統(tǒng)，滿足固態(tài)存儲設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)和大規(guī)模應(yīng)用的需求。